DIC的技术原理 (产品需求 - 手机通讯)
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DIC的技术原理 | |
DIC方法最初是在上世纪八十年代由日本和美国的研究学者分别独立创建，它的基本原理就是通过跟踪（或匹配）物体表面变形前后两幅散斑图像中同一像素点的位置来获得该像素点的位移向量，从而得到试件表面的全场位移[2]。图1给出了一种典型的DIC测量系统的示意图，该系统一般由CCD摄像机、照明光源、图像采集卡及计算机组成。首先，需要使试件的成像表面具有可以反映变形信息的随机散斑图，然后在实验过程中对试件表面在加载前后的图像进行采集并存入计算机，最后利用软件程序采取相关的数学算法得到试件表面的位移信息。 DIC技术其实就是在实验过程中对包含像素特征点的样品表面进行拍照，在选定基准图像后就可以根据数学算法得出样品在实验过程中的位移信息。有了位移的数据，自然而然地就可以得到应变的数据，而这些信息就可以被用来分析研究材料受力过程中的变形行为。 | |
| 相关链接: (无) 面向省市区: 全国 面向市区县: 全部 最后更新: 2023-05-04 10:32:12 | 发 布 者: 海塞姆 联系电话: (无) 电子邮箱: (无) 浏览次数: 101 |
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