为什么使用DIC全场测量替代传统应变测量 | |
DIC技术是通过分析采集得到的变形前后物体表面的散斑图像,匹配追踪两个时刻散斑图像中同一散斑点的位置来获取物体表面的位移矢量。在上个世纪四十年代美国鲍尔温(BLH前身)公司获得了电阻应变片专利后,自此应变片开始进入市场,材料的力学性能开始被应变片逐渐量化。直至现代,随着各种力学标准的制定,应变片也得到了快速的发展,现在应变片按照构造可以分为电阻应变片和光学应变片,按照测试类型可以分为电路应变片和应变仪……但现有的所有的应变片无论怎么分类,都是根据应变片的原理-即“应变效应”构成的,这就决定了应变片在测量材料的力学性能过程中,一个应变片只能测构件表面一个点沿某个方向应变的应变,当然这还只是存在物体表面,如果当材料是测量过程中发生较大的离面变形呢,这又该如何解决,而且在一些特殊材料表面,应变片的焊接,打磨又会有损于表面检测,在大型工程中由于数量多,引线多会增加额外质量。 针对应变片诸上的缺点,于是数字图像相关技术(DIC)应运而生,这是一种对全场位移和应变进行量化分析的非接触光测试验力学方法,通过光电摄像机或数码相机进行图形采集并进行图像数字化,对所选定图像区域进行匹配运算,从而获得面内位移和应变等力学信息。并且由于DIC技术以其全场非接触性、测试环境要求低,测量精度高,适用范围广的优点开始被广泛应用于材料以及与材料相关的诸多行业。 | |
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