DIC全场应变测试技术设备原理及优势 (产品供销 - 珠宝首饰)
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DIC全场应变测试技术设备原理及优势 | |
DIC设备原理： 在被测物表面制作特征点（散斑），通过采集被测物体变形前后散斑图像，捕捉特征点在像素级别的移动。 散斑图像匹配找到数字灰度场在变形前后图像灰度场相关性，采用优化的数字图像相关性运算法则，求解出变形，进一步求解应变。 为试验提供二维、三维空间内全视野的形貌、位移及应变数据测量。 设备优势： a.全场测量 b.非接触测量 c.广阔的测量范围 d.强大的扩展分析能力 相比传统应变片测量只能测得应变场内的离散数据，DIC可以获取视场内的所有应变信息，消除了应变集中区的不确定性给测量带来的不确定因素。DIC技术的非接触光学测量特性，能够在不影响试件本身力学性能的情况下完成对数据的采集，这对于纤维、膜等不适于粘贴应变片的材料和结构实验更具有优势。在实际的实验工作中，经常会遇到大变形或超大变形的测量需求。但由于应变片的可测量区间限制，难以满足大变形实验的测量要求。而DIC技术的极限应变测量范围从0.005%到2000%以上，能够很好的完成该类测试任务。 | |
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