DIC应变仪和应变片的区别 | |
DIC应变仪是通过非接触拍照的方式,利用DIC原理对被测试样进行测量分析,可以获得全场三维应变数据,可以适应冲击,落锤,疲劳等多样化测试场景,同时不受温度,试样形状,应变范围的限制,适用范围更加广泛。 应变片则是由敏感栅等构成用于测量应变的元件。电阻应变片的工作原理是基于应变效应制作的,即导体或半导体材料在外界力的作用下产生机械变形时,其电阻值相应的发生变化,这种现象称为“应变效应”。使用时将其牢固地粘贴在构件的测点上,构件受力后由于测点发生应变,敏感栅也随之变形而使其电阻发生变化,再由专用仪器测得其电阻变化大小,并转换为测点的应变值。 DIC应变仪因其适用场景多样化,采集数据更加全面,正在越来越多的替代传统应变片的使用场景,成为新一代的应变测量工具。 | |
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